老化ATE系統(tǒng)高效高性能方案——IT-M3100D

    制造業(yè)要實現(xiàn)高效大規(guī)模的自動化生產(chǎn)模式，在產(chǎn)線上需要使用可靠穩(wěn)定且高效的ATE測試系統(tǒng)，其中，老化測試系統(tǒng)是電子行業(yè)中非常常見的一種ATE。不管是元件，部件，整 機還是設(shè)備都需要進行老化測試，一方面可以預(yù)測產(chǎn)品的壽命，同時也可以促使隱藏于產(chǎn)品 內(nèi)部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達到早期剔除失效產(chǎn)品的目的。

    傳統(tǒng)的老化方案是通過簡易的電源模塊給DUT提供穩(wěn)定供電，由電阻箱進行拉載，這 種方案盡管可以降低設(shè)備成本，企業(yè)也需要投入更多的成本用于老化室的散熱。隨著“碳達 峰、碳中和”的相關(guān)發(fā)展政策落地，傳統(tǒng)的老化方案還可能會導致企業(yè)耗電量過高。從性能 方面來看，傳統(tǒng)的老化方案在模塊精度及速度、數(shù)據(jù)采樣、數(shù)據(jù)遠端訪問、測試吞吐量、維 護以及可擴展性方面都不夠靈活，無法滿足類似半導體芯片老化，軌道交通控制電源模塊老 化，汽車精密元器件以及車燈老化等待測物參數(shù)規(guī)格多、測試精度要求高的使用場景。

    那么，如何搭建一套高性能又高效，兼具當下和未來需求擴展的老化系統(tǒng)呢？選擇合 適的老化測試儀器尤為關(guān)鍵。

1） 選用緊湊型、高功率密度的老化源或老化載，提升單機柜老化吞吐量。

以 ITECH *新雙通道直流電源 IT-M3100D為例，僅1/2 1U的標準體積內(nèi)，兩個通道 可同時分別輸出400W功率，單機柜內(nèi)*多可集成80個通道。通道相互隔離，即便單個通 道出現(xiàn)異常，不影響整體的老化運行。不僅如此，IT-M3100D雙通道之間支持串并聯(lián)以輕松 擴展老化電壓和功率范圍，系列單機可達 100V/10A/800W 或 30V/30A/800W 的單通道輸出， 滿足用戶不同規(guī)格產(chǎn)品老化需求。

2） 選用具備同步功能的老化測試設(shè)備，提升批量老化參數(shù)設(shè)置效率。

在批量的老化測試中，用戶往往需要對數(shù)百個通道的老化儀器設(shè)置相同的老化參數(shù)。 一般是通過軟件對每個通道依次發(fā)送相同的設(shè)置指令實現(xiàn)，這種方式受限于通信時間，效率 低?？紤]到老化應(yīng)用的一致性，IT-M3100D系列特別內(nèi)置多通道同步控制功能，開啟該功 能，可以將*多8臺 M3100D（16CH）設(shè)備級聯(lián)在一起。測試人員只需要對其中一臺進行 電壓/電流的設(shè)置，其余通道自動復(fù)制，提升批量參數(shù)的設(shè)置效率。

3）選用具備通道級聯(lián)功能的設(shè)備，可優(yōu)化數(shù)百通道老化的通信接線。

當老化的通道數(shù)高達上百通道時，通信連接將成為一個頭疼的問題，因為每個通道需 要引出一根通信電纜，密密麻麻的線纜會使得通信排查變得異常困難。為幫助工程師優(yōu)化接 線，IT-M3100D系列通過通道級聯(lián)功能，PC只需要通過一根網(wǎng)線連接到其中一臺電源，即 可完成對16CH的程控簡化了通信接線。IT-M3100D系列 支持 CANOPEN、LXI、SCPI 等多 種通訊協(xié)議。五種選配卡實現(xiàn)即插即用功能，提供RS 2 3 2 、C A N、LAN、GPIB、USB_TMC、 USB_VCP、RS485、外部模擬量和IO等多種控制方式。

4）選用回饋式老化設(shè)備，節(jié)省電費成本。

 在老化系統(tǒng)集成中，采用回饋式的負載替代傳統(tǒng)電阻箱，可以為企業(yè)節(jié)省一大筆電費 支出?；仞伿截撦d可以將從 DUT吸收的能量逆變?yōu)榻涣麟?，供廠內(nèi)其他用電負荷。目前針 對老化應(yīng)用，ITECH提供從幾百W到MW級的回饋設(shè)備，回饋效率*高可達 95%（ITM3300/IT-M3800/IT8000）。

    選擇合適的老化儀器，不僅可以提升企業(yè)的老化效率，還可以提升系統(tǒng)穩(wěn)定性和易操 作性。IT-M3100D系列雙通道電源可廣泛使用在半導體、智能電子產(chǎn)品、LEN、電源等行業(yè)， 更多信息聯(lián)系我們。